時(shí)域分析功能及眼圖功能

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)

需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具

的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端

口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。

另外，SNA5000A系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等

參數(shù)進(jìn)行分析。

材料介電特性的精確表征和測(cè)量

鼎陽(yáng)科技材料測(cè)量的全套解決方案，包括SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、MT材料測(cè)量分析軟件、

KWR42A波導(dǎo)校準(zhǔn)件和夾具，可以幫助用戶(hù)高效、精確的表征和測(cè)量材料的介電特性。SNA

系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兼具出色的測(cè)量完整性和經(jīng)濟(jì)適用性，通過(guò)測(cè)量向?qū)е敢脩?hù)完成材料

測(cè)量過(guò)程，測(cè)量結(jié)果可用多種格式繪制，幫助用戶(hù)更好地分析測(cè)量結(jié)果，非常適合實(shí)驗(yàn)室、

研究機(jī)構(gòu)和教育教學(xué)環(huán)境。